半導(dǎo)體高低溫測試機(jī)也稱為氣體制冷加熱控溫系統(tǒng)、高低溫沖擊氣流儀、熱流儀等，采用流體溫度控制技術(shù)，在元器件半導(dǎo)體行業(yè)進(jìn)行各種溫度測試模擬應(yīng)用，控溫范圍-92℃~250℃，具有寬的溫度方向和高溫升降，適用于各種測試要求。

　　冠亞制冷半導(dǎo)體高低溫測試機(jī)適用于電子元件的準(zhǔn)確溫度控制，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子組件制造中，IC封裝組裝、工程和生產(chǎn)測試階段包括電子熱測試和其他溫度（-45℃至+250℃）下的環(huán)境測試模擬。一旦投入實(shí)際使用，這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品可以暴露在嚴(yán)苛的環(huán)境條件下，以滿足苛刻的可靠性標(biāo)準(zhǔn)。

　　一、高精度制冷加熱控溫系統(tǒng)

　　溫度控制范圍：-85℃~+250℃

　　溫度控制精度：±0.3℃

　　應(yīng)用領(lǐng)域：研究院、航空航天、半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、大學(xué)、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領(lǐng)域。

　　溫度范圍以及型號(hào)：

　　TES-45℃～250℃：TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W等；

　　TES-85℃～200℃：TES-8525W、TES-8555W等；

　　TES-60℃～200℃：TES-6A15WPEX、TES-6A15WDEX、TES-6A25WPEX、TES-6A25WDEX、TES-6A45WPEX、TES-6A45WDEX、TES-6A60WPEX、TES-6A60WDEX；

　　二、氟化液制冷加熱控溫系統(tǒng)

　　溫度控制范圍：-80℃~+80℃

　　溫度控制精度：±0.1℃

　　應(yīng)用于半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領(lǐng)域。

　　溫度范圍以及型號(hào)：

　　LTS-20℃～80℃ ：LTS-202、LTS-202W、LTS-203W、LTS-204W、LTS-206W、 LTS-203、LTS-204、 LTS-206、 LTS-208、LTS-208W；

　　LTS-40℃～80℃ ：LTS-402、LTS-403、 LTS-404、 LTS-406、 LTS-408、LTS-402W、 LTS-403W、 LTS-404W、 LTS-406W、 LTS-408W；

　　LTS-60℃～80℃ ：LTS-602、 LTS-603、 LTS-604、 LTS-606、 LTS-608、LTS-602W、 LTS-603W、 LTS-604W、 LTS-606W、 LTS-608W；

　　LTS-80℃～80℃：LTS-802、 LTS-803、 LTS-804、 LTS-806、 LTS-808、LTS-802W、 LTS-803W、 LTS-804W、 LTS-806W、 LTS-808W；

　　三、高低溫沖擊測試機(jī)

　　溫度控制范圍：-115℃~+225℃

　　溫度控制精度：±0.5℃

　　射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。是對(duì)產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。

溫度范圍以及型號(hào)：

　　-45℃～225℃：AES-4535、AES-4535W；

　　-60℃～225℃：AES-6035；

　　-80℃～225℃：AES-8035W ；

　　-100℃～225℃： AES-A1035W；

　　-115℃～225℃：AES-A1235W；

　　四、AI循環(huán)風(fēng)控制系統(tǒng)

　　溫度控制范圍：-105℃~+125℃

　　溫度控制精度：±0.2℃

應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)備高低溫測試；電子設(shè)備高溫、低溫、恒溫測試?yán)錈嵩矗华?dú)立的制冷循環(huán)風(fēng)機(jī)組；可連續(xù)長時(shí)間工作，自動(dòng)除霜，除霜過程不影響庫溫。

溫度范圍以及型號(hào)：

　　-65℃～+125℃：AI-6535、AI-6535W ；

　　-80℃～+125℃：AI-8035W

　　-105℃～+125℃：AI-1055W

　　五、小型氣體制冷機(jī)

　　溫度控制范圍：-110℃~-40℃

　　應(yīng)用于將無腐蝕性氣體降溫使用，如干燥壓縮空氣、氮?dú)狻鍤獾瘸貧怏w通入到LQ系列設(shè)備內(nèi)部，出來的氣體即可達(dá)到目標(biāo)低溫溫度，供給需求測試的元件或者換熱器中。