微處理器芯片測試裝置chiller適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品研發(fā)等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制及新產(chǎn)品的研制等。

　　一、微處理器芯片測試裝置chiller工作原理：

　　試驗機輸出氣流將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗。

　　二、對比傳統(tǒng)溫箱，微處理器芯片測試裝置chiller特點：

　　1、高低溫溫度范圍在-85~250°C，控溫精度±0.5°C。

　　2、采用氣動控制，轉(zhuǎn)換時間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。

　　3、微處理器芯片測試裝置chiller升降速率非常快速，升降溫時間可控，程序化操作、手動操作、遠程控制。

　　4、超大觸摸屏操作，外觀簡潔大方，操作簡單方便，設(shè)定值實際值實時顯示；

5、測試條件：環(huán)境溫度20°C，10~30m3/h，5~7Bar，干燥壓縮空氣或者氮氣。